【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Rapidchangeoftemperature-Two-fluid-bathmethod
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.温度速变.双流体浸泡法
【标准号】:BSEN60749-11-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-09-24
【实施或试行日期】:2002-09-24
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候;环境试验;电子设备及元件;电学测量;半导体器件;集成电路;机械试验;半导体;电子工程;测试;气候试验;电气工程;定义;温度变化;元部件
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60749definestherapidchangeoftemperaturetestmethodandthetwo-fluid-bathmethod.Whenbothtestmethodsareperformedaspartofadevicequalification,resultsofairtoairtemperaturecyclingtakepriorityoverthistwo-fluid-bathtestmethod.Thistestmethodmayalsobeused,employingfewercycles(e.g.5to10cycles),totesttheeffectofimmersioninheatedliquidsthatareusedforthepurposeofcleaningdevices.Thistestisapplicabletoallsemiconductordevices.Itisconsidereddestructiveunlessotherwisedetailedintherelevantspecification.Ingeneral,thisrapidchangeoftemperatureandtwo-fluidbathmethodtestisinconformitywithIEC60068-2-14but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语

标准名称：	低钠食品
英文名称：	Foods with low-sodium content
中标分类：	食品 >> 特种食品 >> 特种食品综合
ICS分类：	食品技术 >> 食品综合
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期：	2009-05-18
实施日期：	2009-12-01
首发日期：	2009-05-18
作废日期：
主管部门：	全国特殊膳食标准化技术委员会
提出单位：	全国特殊膳食标准化技术委员会
归口单位：	全国特殊膳食标准化技术委员会
起草单位：	中国食品发酵工业研究院、北京大学第三医院运动医学研究所
起草人：	陈岩、艾华、涂顺明、仇凯
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2009-12-01
页数：	8页
计划单号：	20071161-T-469

本标准规定了低钠食品的产品分类、技术要求、试验方法和标签。本标准适用于低钠食品的生产和流通。

没有内容

没有内容

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T5009.91 食品中钾?钠的测定
GB13432 预包装特殊膳食用食品标签通则